Omslagsbild från Amazon
Bild från Amazon.com

Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectrometry, electron microscopy / J.P. Eberhart ; translated by J.P. Eberhart

Av: Eberhart, Jean Pierre.
Materialtyp: materialTypeLabelBokFörläggare: Chichester : Wiley, cop. 1991Beskrivning: xxvii, 545 s. : ill., diagr., tab.ISBN: 0471929778.Ämnen: Materialegenskaper | Materiallära | Material properties | Materials science
Taggar från det här biblioteket: Den aktuella titeln har inga taggar från det här biblioteket. Logga in för att lägga till taggar.
Betyg
    Medelbetyg: 0.0 (0 röster)

Teknik från Koha