Journal of electron microscopy / Japanese society of electron microscopy

Medverkande: Japanese society of electron microscopy [oth].
Materialtyp: materialTypeLabelPeriodikaAnalys: Visa analysFörläggare: Tokyo, 1953-ISSN: 0022-0744.Ämnen: Tidskrifter | Periodika | Elektronik | Mätinstrument | Periodicals | Electronics | Measurement instruments
Taggar från det här biblioteket: Den aktuella titeln har inga taggar från det här biblioteket. Logga in för att lägga till taggar.
Betyg
    Medelbetyg: 0.0 (0 röster)

Teknik från Koha